可靠性實驗室


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Unit G03, IC Development Centre, No. 6, Science Park West Avenue, Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

可靠性實驗室配備先進的可靠性測試設備,支援集成電路及半導體產品生命週期的模擬測試及壓力測試。

富經驗的工程人員為客戶提供可靠性測試服務。我們的主要服務包括集成電路電子溫度特性研究、老化測試、溫度循環測試、溫濕偏壓測試。