可靠性實驗室


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Unit G03, IC Development Centre, No. 6, Science Park West Avenue, Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

可靠性實驗室配備先進的可靠性測試設備,支援集成電路及半導體產品生命週期的模擬測試及壓力測試。

富經驗的工程人員為客戶提供可靠性測試服務。我們的主要服務包括集成電路電子溫度特性研究、老化測試、溫度循環測試、溫濕偏壓測試。

 

測試服務

-  高溫測試

-  低溫測試

-  高溫高壓測試

-  高加速溫濕度壽命測試

-  溫濕偏壓測試

-  溫度循環測試

-  高低溫衝擊測試

-  高溫工作壽命測試

-  回焊爐模擬測試

-  濕氣敏感度測試

 

查詢

電郵:pal@hkstp.org 

地址:香港新界沙田香港科學園科技大道西6 號集成電路開發中心地下G03室

電話:2629 6683 / 2629 6600