探測及測試開發中心


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Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

香港科技園公司之積體電路開發支援中心為客戶提供測試開發服務、探測與測試服務,射頻與類比工程支援晶片可靠性測試及產品失效分析服務。聯同積體電路設計中心,香港科技園公司可以提供由產品設計至產品量產的一站式服務。積體電路開發支援中心具備經驗豐富的測試工程人員,全天候支援客戶所需。中心更具備先進的自動化測試系統、晶圓針測試機、積體電路測試分類機、射頻實驗室儀器、可靠性測試、微量及失效分析設備。

 

探測及測試儀器

本中心備有自動測試設備,支援系統晶片、類比、混合訊號、射頻及數碼產品測試等。客戶可以時計方式租用各類設備。

- Advantest V93000 PS400 Tester RF option

- Advantest V93000 PS800 Tester with AV-8 

- Credence ASL1000 Analog Tester

- Teradyne Integra J750 Digital Tester

- HI Level ETS-780 Tester

- Delta Edge Handler

- Hontech Handler

- ICOS TI-120 Scanner Machine with Tape and Reel option

- Temptronic TP04310 ThermoStream system

 

測試及產品工程支援服務

我們與著名的自動測試設備供應商及各量產工廠建立良好的合作夥伴關係,而經驗豐富的測試工程人員可助客戶進行探測/最終測試元件開發,為積體電路產品進行產量分析及電子特性表現研究。工程服務以專案方式執行,費用因應項目時間長短及所需服務而厘定。

 

查詢

集成電路開發支援中心

電話: +852 2629 6600 / +852 2629 6683

電郵: pal@hkstp.org

地址:香港新界沙田香港科學園科技大道西6 號集成電路開發中心地下G03室