集成電路失效分析實驗室


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Unit 107-108A, 1/F, Biotech Centre 1, No. 9, Science Park West Avenue, Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

在在集成電路失效分析實驗室(ICFAL)配備了全面的分析設備用於非破壞性分析,電性分析及物理分析以支援半導體及電子產品的失效分析。

經驗豐富的工程師提供完整的IC失效分析和調試。

 

測試服務

- 故障模式驗證

- 電性測試

- 外部封裝檢查

- 內部封裝檢查

- 封裝剝離

- 失效位置定位

- 晶片去層

- 光學顯微鏡檢測

- 掃描電鏡檢測

- 線路修改

- 結構分析

查詢

電話:+852-2629 6683 / 2629 6600

電郵:pal@hkstp.org 

地址:香港新界沙田香港科學園科技大道西6 號集成電路開發中心地下G03室