可靠性实验室


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Unit G03, IC Development Centre, No. 6, Science Park West Avenue, Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

可靠性实验室配备先进的可靠性测试设备,支持集成电路及半导体产品生命周期的仿真测试及压力测试。

富经验的工程人员为客户提供可靠性测试服务。我们的主要服务包括集成电路电子温度特性研究、老化测试、温度循环测试、温湿偏压测试。

 

测试服务

-  高温测试

-  低温测试

-  高温高压测试

-  高加速温湿度寿命测试

-  温湿偏压测试

-  温度循环测试

-  高低温冲击测试

-  高温工作寿命测试

-  回焊炉模拟测试

-  湿气敏感度测试

 

查询

电邮:pal@hkstp.org 

地址:香港新界沙田香港科学园科技大道西6 号集成电路开发中心地下G03室

电话:+852 2629 6683 / 2629 6600