探测及测试开发中心


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Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
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香港科技园公司之集成电路开发支援中心为客户提供测试开发服务、探测与测试服务,射频与模拟工程支援芯片可靠性测试及产品失效分析服务。联同集成电路设计中心,香港科技园公司可以提供由产品设计至产品量产的一站式服务。集成电路开发支援中心具备经验丰富的测试工程人员,全天候支援客户所需。中心更具备先进的自动化测试系统、晶圆针测试机、集成电路测试分类机、射频实验室仪器、可靠性测试、微量及失效分析设备。