探测及测试开发中心


该 Email 地址已受到反垃圾邮件插件保护。要显示它需要在浏览器中启用 JavaScript。
Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

香港科技园公司之集成电路开发支援中心为客户提供测试开发服务、探测与测试服务,射频与模拟工程支援芯片可靠性测试及产品失效分析服务。联同集成电路设计中心,香港科技园公司可以提供由产品设计至产品量产的一站式服务。集成电路开发支援中心具备经验丰富的测试工程人员,全天候支援客户所需。中心更具备先进的自动化测试系统、晶圆针测试机、集成电路测试分类机、射频实验室仪器、可靠性测试、微量及失效分析设备。

 

探测及测试儀器

本中心备有自动测试设备,支援系统晶片、模拟、混合讯号、射频及数码产品测试等。客户可以时计方式租用各类设备。

- Advantest V93000 PS400 Tester RF option

- Advantest V93000 PS800 Tester with AV-8 

- Credence ASL1000 Analog Tester

- Teradyne Integra J750 Digital Tester

- HI Level ETS-780 Tester

- Delta Edge Handler

- Hontech Handler

- ICOS TI-120 Scanner Machine with Tape and Reel option

- Temptronic TP04310 ThermoStream system

  

测试及产品工程支援服务

我们与著名的自动测试设备供应商及各量产工场建立良好的合作伙伴关系,而经验丰富的测试工程人员可助客户进行探测/最终测试组件开发,为集成电路产品进行产量分析及电子特性表现研究。工程服务以项目方式执行,费用因应项目时间长短及所需服务而厘定。

 

查询:

集成电路开发支援中心

电邮: pal@hkstp.org

地址:香港新界沙田香港科学园科技大道西6 号集成电路开发中心地下G03室

电话: +852 2629 6600 / +852 2629 6683