集成电路失效分析实验室


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Unit 107-108A, 1/F, Biotech Centre 1, No. 9, Science Park West Avenue, Hong Kong Science Park, Shatin, New Territories , Hong Kong, China
2629 6683 / 2629 6600

在集成电路失效分析实验室(ICFAL)配备了全面的分析设备用于非破坏性分析,电性分析及物理分析以支持半导体及电子产品的失效分析。

经验丰富的工程师提供完整的IC失效分析和调试。

 

测试服务

- 故障模式验证

- 电性测试

- 外部封装检查

- 内部封装检查

- 封装剥离

- 失效位置定位

- 芯片去层

- 光学显微镜检测

- 扫描电镜检测

- 线路修改

- 结构分析

 

查询

电话:+852-2629 6683 / 2629 6600

电邮:pal@hkstp.org 

地址:香港新界沙田香港科学园科技大道西6 号集成电路开发中心地下G03室